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賽可（SEC）X-RAY設(shè)備X-eye 6200 Series：搭載自主研發(fā)·生產(chǎn)的0.8微米focal spot tube和大面積Detector，確保高(High)分辨率圖像，最小也可以檢測出20微米的細(xì)微缺陷的設(shè)備。
更新日期：2025-06-09
型號：X-eye 6200AXI Series
廠商性質(zhì)：代理商
賽可（SEC）X-RAY設(shè)備X-eye 6100 Series：為了用戶的便利性定期更新各種Easy-to-use功能。
更新日期：2025-06-09
型號：X-eye 6100AXI Series
廠商性質(zhì)：代理商
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160RT Series：半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設(shè)備Detector X-tlt與Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度。
更新日期：2025-06-09
型號：X-eye SF160RT Series
廠商性質(zhì)：代理商
賽可（SEC）X-RAY檢測X-eye5000N Series:通過采用雙臂支撐的Z軸結(jié)構(gòu)方式，可快速地獲取清晰圖像。
更新日期：2025-06-09
型號：
廠商性質(zhì)：代理商
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。
更新日期：2025-06-09
型號：
廠商性質(zhì)：代理商
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實(shí)現(xiàn)3次元（3D）影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類，位置及大小。
更新日期：2025-06-09
型號：X-eye SF160F/N Series
廠商性質(zhì)：代理商
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